AENOR – Asociación Española de Normalización y Certificación

Inicio > Normas y Publicaciones > Datos de la norma

UNE-EN 62374-1:2010

Estado Fecha Páginas Idiomas Formatos Precio () Comprar
Vigente 2011-03-01 19 64 () Añadir a la cesta
Norma UNE-EN 62374-1:2010
Título español Dispositivos semiconductores. Ensayo de ruptura dieléctrica dependiente del tiempo (TDDB) para capas intermetálicas (Ratificada por AENOR en marzo de 2011.)
Título inglés Semiconductor devices -- Part 1: Time-dependent dielectric breakdown (TDDB) test for inter-metal layers (Endorsed by AENOR in March of 2011.)
Título francés Dispositifs à semiconducteurs -- Partie 1: Essai de rupture diélectrique en fonction du temps (TDDB) pour les couches intermétalliques (Entérinée par l’AENOR en mars 2011.)
Fecha Ratificación 2011-03-01
ICS 31.080 / Dispositivos semiconductores
Comité AEN/CTN 209 - EQUIPOS ELECTRÓNICOS
Equivalencias Internacionales EN 62374-1:2010 - Idéntico
EN 62374-1:2010/AC:2011 - Idéntico
IEC 62374-1:2010 - Idéntico
Anulaciones  Anula a: UNE-EN 62374:2007

50% dto. Si compra la misma norma en distintos idiomas, para la mitad por la de menor precio.

Nota: Precios sin IVA ni gastos de envío.


 

Todos los derechos reservados: © AENOR, 2016

Compartir enlace

Información de AENOR - Avisos legales - Declaración de accesibilidad - Mapa del sitio