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UNE-EN 62374:2007

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Anulada 2013-11-01 25 69 () Añadir a la cesta
Norma UNE-EN 62374:2007
Título español Dispositivos semiconductores. Ensayo de ruptura dieléctrica dependiente del tiempo (TDDB) para películas dieléctricas de paso. (IEC 62374:2007). (Ratificada por AENOR en febrero de 2008.)
Título inglés Semiconductor devices - Time Dependent Dielectric Breakdown (TDDB) test for gate dielectric films (IEC 62374:2007). (Endorsed by AENOR in February of 2008.)
Título francés Dispositifs à semiconductors - Essai de rupture diélectrique en fonction du temps (TDDB) pour films diélectriques de grille (CEI 62374:2007). (Entérinée par l’AENOR en février 2008.)
Fecha Ratificación 2008-02-01
ICS 31.080.01 / Dispositivos semiconductores en general
Comité AEN/CTN 209 - EQUIPOS ELECTRÓNICOS
Equivalencias Internacionales EN 62374:2007 - Idéntico
IEC 62374:2007 - Idéntico
Anulaciones  Es anulada por:  UNE-EN 62374-1:2010

50% dto. Si compra la misma norma en distintos idiomas, para la mitad por la de menor precio.

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