| Norma |
UNE-EN 60749-33:2005
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| Título español |
Dispositivos semiconductores. Ensayos mecánicos y climáticos. Parte 33: Resistencia a la humedad acelerada. Autoclave no polarizada |
| Título inglés |
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 33: Accelerated moisture resistance - Unbiased autoclave |
| Título francés |
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 33: Résistance à l'humidité accélérée - Autoclave sans polarisation |
| Fecha Edición |
2005-03-16 |
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| ICS |
31.080.01 / Dispositivos semiconductores en general
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| Comité |
CTN 209 - EQUIPOS ELECTRÓNICOS
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| Equivalencias Internacionales |
EN 60749-33:2004 - Idéntico
IEC 60749-33:2004 - Idéntico
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