AENOR – Asociación Española de Normalización y Certificación

Inicio > Normas y Publicaciones > Datos de la norma

UNE-EN 60749-33:2005

Estado Fecha Páginas Idiomas Formatos Precio () Comprar
Vigente 2005-03-16 10 27 () Añadir a la cesta
Norma UNE-EN 60749-33:2005
Título español Dispositivos semiconductores. Ensayos mecánicos y climáticos. Parte 33: Resistencia a la humedad acelerada. Autoclave no polarizada
Título inglés Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 33: Accelerated moisture resistance - Unbiased autoclave
Título francés Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 33: Résistance à l'humidité accélérée - Autoclave sans polarisation
Fecha Edición 2005-03-16
  Ver parte del contenido de la norma
ICS 31.080.01 / Dispositivos semiconductores en general
Comité CTN 209 - EQUIPOS ELECTRÓNICOS
Equivalencias Internacionales EN 60749-33:2004 - Idéntico
IEC 60749-33:2004 - Idéntico

50% dto. Si compra la misma norma en distintos idiomas, para la mitad por la de menor precio.

Nota: Precios sin IVA ni gastos de envío.


 

Todos los derechos reservados: © AENOR, 2016

Compartir enlace

Información de AENOR - Avisos legales - Declaración de accesibilidad - Mapa del sitio